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| 序号 | 項 目 | 周 期 | 要 求 | 說 明(míng) |
| 1 | 零值絕緣子檢測(66kV及以上) | 1～5年 | 在運行電壓下(xià)檢測 |
1)可(kě)根據絕緣子的(de)劣化(huà)率調整檢測周期 2)對(duì)多(duō)元件針式絕緣子應檢測每一元件 |
| 2 | 絕緣電阻 |
1)懸式絕緣子1～5年 2)針式支柱絕緣子1～5年 |
1)針式支柱絕緣子的(de)每一元件和(hé)每片懸式絕緣子的(de)絕緣電阻不應低于300MΩ，500kV懸式絕緣子不低于500MΩ 2)半導體釉絕緣子的(de)絕緣電阻自行規定 |
1)采用(yòng)2500V及以上兆歐表 2)棒式支柱絕緣子不進行此項試驗 |
| 3 | 交流耐壓試驗 |
1)單元件支柱絕緣子1～5年 2)懸式絕緣子1～5年 3)針式支柱絕緣子1～5年 4)随主設備 5)更換絕緣子時(shí) |
1)支柱絕緣子的(de)交流耐壓試驗電壓值見附錄B 2)35kV針式支柱絕緣子交流耐壓試驗電壓值如下(xià)： 兩個(gè)膠合元件者，每元件50kV；三個(gè)膠合元件者，每元件34kV 3)機械破壞負荷爲60～300kN的(de)盤形懸式絕緣子交流耐壓試驗電壓值均取60kV |
1)35kV針式支柱絕緣子可(kě)根據具體情況按左欄要求1)或2)進行 2)棒式絕緣子不進行此項試驗 |
| 4 | 絕緣子表面污穢物(wù)的(de)等值鹽密 | 1年 | 參照(zhào)附錄C污穢等級與對(duì)應附鹽密度值檢查所測鹽密值與當地污穢等級是否一緻。結合運行經驗，将測量值作爲調整耐污絕緣水(shuǐ)平和(hé)監督絕緣安全運行的(de)依據。鹽密值超過規定時(shí)，應根據情況采取調爬、清掃、塗料等措施 | 應分(fēn)别在戶外能代表當地污染程度的(de)至少一串懸垂絕緣子和(hé)一根棒式支柱上取樣，測量在當地積污最重的(de)時(shí)期進行 |
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