1.溫升試驗對(duì)成套設備的(de)要求

在測量溫升前，成套設備應如正常使用(yòng)時(shí)一樣放置，所有覆闆都應就位。對(duì)繼電器、接觸器、脫扣器等的(de)線圈施加額定電壓。進行溫升的(de)成套設備應具有代表性，如果被測的(de)成套設備系統包含幾個(gè)方案，通(tōng)常選擇最嚴酷布置的(de)成套設備系統進行試驗。

2.試驗電流的(de)确定

試驗應在一個(gè)或多(duō)個(gè)有代表性的(de)組合電路上進行，這(zhè)些電路體現了(le)該成套設備的(de)主要用(yòng)途，所選擇的(de)電路應能足夠準确地得(de)到盡可(kě)能的(de)最高(gāo)溫升。

對(duì)于這(zhè)種試驗，進線電路及出線電路通(tōng)以标準（GB7251.1-2013）中規定的(de)電流。如果成套設備中包含有熔斷器，試驗時(shí)應按制造商的(de)規定配備熔芯，試驗所用(yòng)熔芯的(de)功率損耗應載入試驗報告中。

成套設備中的(de)電路的(de)額定電流由制造商根據電氣設備的(de)額定值及布置和(hé)應用(yòng)情況來(lái)确定，如果制造商給出了(le)額定分(fēn)散系數，應按照(zhào)制造商給出的(de)分(fēn)散系數進行試驗。

3.溫升試驗電路

1）單相溫升試驗電路。

試驗電流小于或等于400A時(shí)，可(kě)以考慮使用(yòng)單相法。隻有當磁場(chǎng)的(de)作用(yòng)小到可(kě)以忽略的(de)程度，多(duō)相成套設備才允許采用(yòng)單相交流電。這(zhè)是因爲用(yòng)單相電源進行試驗，相鄰兩導體中通(tōng)過交流電流時(shí)會産生鄰近效應，使導體中電流分(fēn)布不均勻，實際上減小了(le)導體的(de)有效面積，增加了(le)導體的(de)實際電阻。由于三相電與單相電的(de)相位不同，各相導體間鄰近效應的(de)影(yǐng)響也(yě)不同，所以溫升試驗時(shí)的(de)溫升也(yě)有差别。

2）三相溫升試驗電路

試驗電路電流大(dà)于400A時(shí)，要采用(yòng)三相交流電源。

3）用(yòng)功率損耗等效的(de)電阻器進行溫升試驗

對(duì)于某些主電路和(hé)輔助電路額定電流比較小的(de)封閉式成套設備其功率損耗可(kě)使用(yòng)能産生相同熱(rè)量的(de)加熱(rè)電阻器來(lái)模拟，該電阻器安裝在外殼中适當的(de)位置上。連到電阻器上的(de)引線截面不應導緻顯著的(de)熱(rè)量傳出外殼。加熱(rè)電阻試驗，對(duì)相同外殼的(de)所有成套設備應具有充分(fēn)的(de)代表性，盡管外殼内裝有不同的(de)電器元件，但隻要考慮電路的(de)分(fēn)散系數後，其總功率損耗不超過試驗時(shí)的(de)功率損耗即可(kě)。

4.溫升測量點的(de)确定

溫升測量點的(de)确定包括内裝的(de)元器件進出線處，用(yòng)于連接外部絕緣導線的(de)端子，母線連接處，母線與導體連接處，可(kě)移式部件和(hé)抽出式部件進出線插頭，與發熱(rè)元件、發熱(rè)導體相鄰或接觸的(de)絕緣材料，操作手柄等。

5.溫升的(de)測量

用(yòng)熱(rè)電偶測量溫升點，應防止空氣流動和(hé)熱(rè)輻射對(duì)熱(rè)電偶的(de)影(yǐng)響。試驗的(de)時(shí)間足以使溫升上升到穩定值（一般不超過8小時(shí)），實際上當溫升不超過1K/h時(shí)，即認爲溫升穩定。如果元器件允許的(de)話(huà)，可(kě)以在試驗開始時(shí)加大(dà)電流，然後再降到規定的(de)試驗電流值，用(yòng)這(zhè)樣的(de)方法縮短試驗時(shí)間。

6.環境穩定的(de)測量

環境溫度應在試驗周期的(de)最後1/4期間内測量，至少要用(yòng)兩個(gè)熱(rè)電偶或溫度計均勻地布置在成套設備的(de)周圍，其高(gāo)度約等于成套設備的(de)二分(fēn)之一，并距成套設備1m的(de)地方安裝，應防止空氣流動和(hé)熱(rè)輻射對(duì)溫度計或熱(rè)電偶的(de)影(yǐng)響。

試驗期間的(de)環境溫度應在10~40攝氏度之間。

7.試驗結果判定

試驗結束時(shí)，溫升值不應超過标準中的(de)規定值。元器件在成套設備内部溫度下(xià)，并在其規定的(de)電壓極限範圍内應良好地工作。